进博会上，国产检测设备的硬件参数已接近进口产品，短板集中在缺陷识别算法。样本库不足与标注标准不统一，是算法难以落地的直接原因，企业正与用户共建数据集。 从展台演示看，国产检测设备在成像质量与扫描速度上已接近进口产品，短板集中在缺陷识别算法。算法依赖样本积累，而航天领域的缺陷样本稀缺且标注成本高。 部分企业开始与用户共建数据集，把历史检测数据整理成训练样本。业内认为，这条路见效慢，但比单纯采购算法更可持续。 算法短板的补齐需要时间，短期内仍需依靠经验丰富的判读人员把关。